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物理吸附與真密度分析技術突破:攻克低比表面積樣品測試頑疾!
2020年09月11日 發布 分類:粉體應用技術 點擊量:460
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“不同廠家或型號測出的BET值不一樣;各廠家儀器之間數據不一致;同一型號,不同地域,不同海拔,數據不一致;同一臺儀器,白天晚上,春夏秋冬數據不一致;同一臺儀器,長期穩定性不好……”曾長期在國際知名顆粒表征儀器廠商擔任要職的楊正紅先生明確指出了比表面積測試頑疾所在。

粉體檢測

以歐洲標準設計制造的iPore系列全自動比表面和孔徑分析儀

近年來隨著新能源行業快速發展,對電池正負極材料、膜材料和電子材料(包括特種氧化鋁)等超低比表面積樣品的分析需求也日益增多,同樣低比表面積的材料還包括原料藥物(API)及其輔料,銀粉、不銹鋼粉以及合金粉等3D打印材料等,這些材料的超低的比表面積給比表面積分析儀提出了前所未有的挑戰!

比表面儀出現文章開頭描述問題的原因很簡單:比表面積和吸附量正相關,所以當小表面材料所能吸附樣品總量不足以克服本底噪音時,就帶來了測試結果的不穩定性,甚至測不出來。如何控制影響測試結果的因素,即由溫度、體積和壓力測量帶來的誤差呢?不要錯過楊正紅先生帶來的“物理吸附和真密度分析的技術突破及其應用”報告,更不要錯過“不鳴則已,一鳴驚人”的國產顆粒表征新品!

粉體圈 郜白


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